金、鈀、鎳、銅等多元素X射線光譜測厚儀 一.技術指標： 1.1分析元素范圍：S-U 1.2同時可分析24個元素，五層鍍層以上 1.3分析厚度檢出限最高達0.005μm 1.4定位精度：0.02mm 1.5測量時間：5s以上 1.6計數率：0-8000cps 1.7 Z軸升降范圍：0-140mm 1.8圖像聯動系統，可編程，可實現單點，多點，網格多種控制 1.9X/Y平臺可移動行程

檢測膜厚機器設備 是一款于檢測各種異形件，特別適用于五金類模具、衛浴產品、線路板以及精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以內的異形件具備巨大的優勢；搭載全自動可編程移動平臺，無人值守，便可實現多樣品的自動檢測。